MSC080SMA120S
Microchip / Microsemi
主要参数包括技术 碳化硅(SiC)、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、漏源导通电阻(Rds On) 100 mOhms、最小工作温度 - 55 C、最大工作温度 + 175 C,采用 D3PAK-3 封装。
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Microchip / Microsemi
主要参数包括技术 碳化硅(SiC)、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、漏源导通电阻(Rds On) 100 mOhms、最小工作温度 - 55 C、最大工作温度 + 175 C,采用 D3PAK-3 封装。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > MOSFETMicrochip Technology
主要参数包括通道数 1 个通道、技术 碳化硅(SiC)、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、连续漏极电流(Id) 35 A、漏源导通电阻(Rds On) 100 mOhms,采用 D3PAK-3 封装。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > SiC MOSFETsMicrochip Technology
主要参数包括通道数 1 个通道、技术 碳化硅(SiC)、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、连续漏极电流(Id) 35 A、漏源导通电阻(Rds On) 80 mOhms。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > SiC MOSFETsMicrochip Technology
主要参数包括通道数 1 个通道、技术 碳化硅(SiC)、晶体管类型 1 N-Channel、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、连续漏极电流(Id) 43 A,采用 PSMT-16 封装。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > SiC MOSFETsMicrochip Technology
主要参数包括技术 碳化硅(SiC)、晶体管类型 1 N-Channel、类型 mSiC MOSFET、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、连续漏极电流(Id) 38 A,采用 TO-268-3 封装。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > SiC MOSFETsMicrochip Technology
主要参数包括通道数 1 个通道、技术 碳化硅(SiC)、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、连续漏极电流(Id) 43 A、漏源导通电阻(Rds On) 100 mOhms,采用 TO-263-7 封装。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > SiC MOSFETsMicrochip Technology
主要参数包括通道数 1 个通道、技术 碳化硅(SiC)、晶体管类型 1 N-Channel、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、连续漏极电流(Id) 43 A,采用 TO-263-7 封装。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > SiC MOSFETsMicrochip / Microsemi
主要参数包括技术 碳化硅(SiC)、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、漏源导通电阻(Rds On) 175 mOhms、最小工作温度 - 55 C、最大工作温度 + 175 C,采用 TO-247-3 封装。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > MOSFETMicrochip / Microsemi
主要参数包括技术 碳化硅(SiC)、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、漏源导通电阻(Rds On) 175 mOhms、最小工作温度 - 55 C、最大工作温度 + 175 C,采用 D3PAK-3 封装。
半导体 > 分立半导体 > 晶体管 > MOSFETMicrochip Technology
主要参数包括技术 碳化硅(SiC)、晶体管极性 N-Channel、漏源击穿电压(Vds) 1.2 kV、漏源导通电阻(Rds On) 180 mOhms、单件重量 0.211644 oz,采用 TO-247-4 封装。
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